電線電纜的基本測試方法

基本結構

（一）導線

1、導體電阻：除TPT、TS和TST等錫芯電線外，UL不要求測量電線電纜產(chǎn)品的導體電阻。

2、線徑：通常電線電纜的線徑都是偶數(shù)AWG，如18AWG、16AWG等，奇數(shù)AWG電線屬于特殊例外。

3、決定導體截面積的方法有二種：

A、測量每一根絞合芯線截面積之和，測量時至少要取7根苡線直徑的平均值作為平均芯線直徑。D

以Mils計算：導體截面積CMA=nd2（CMA：Circular Mil Area)

以毫米計算：導體=0.7854*nd2

其中n為導體結構中芯線的根數(shù)。芯線直徑的測量：根據(jù)UL1581第200節(jié)，每根芯線直徑須使用精度達到0.01mm(0.001英寸），兩個端面都是平面的千分尺進行測量。

B、稱重法，見UL1581第210節(jié)。

測量過程中發(fā)現(xiàn)測量值小于要求值（UL1581，Table20.1),可用兩種方法中的另一種加以證實。（注：DC電阻測量法不能用來作為測量CMA的最終判斷標準）。

導體絕緣厚度

1、測量工具：千分尺

常用的千分尺，測量端面均為平面，最小讀數(shù)：0.01mm

端面為1.98*9.5mm，荷重10g的荷重千分尺（導體絕緣厚度）

平均絕緣厚度的測量：距端線10英寸開始，每10英寸為一個測量點，測量5個點處導線的外徑，導體的直徑。

絕緣厚度=（導線外徑-導體直徑）/2

將5個點處的絕緣厚度平均即得到平均絕緣厚度。

最小絕緣厚度的測量：

測量工具：pin-gauge千分尺,注意此方法適用于18AWG或更大線徑的導線結構。截取一段抽出芯線導體的絕緣體，將其放置在千分尺的pin上。測量時先將荷重輕輕抬起，并緩慢轉(zhuǎn)動絕緣體，讀取最小值即視作導線絕緣體最小厚度。對于小于18AWG的導線，可采用讀數(shù)顯微鏡方法。

2、測量工具，讀數(shù)顯微鏡

取樣時，小心抽取全部導體芯線，沿導線絕緣體方向垂直切片，在顯微鏡下測量最薄處的厚度，作為導體絕緣層的最小厚度。

通常將讀數(shù)顯微鏡（精度為0.001mm)的測量結果作為最終的參考標準。實際測量時發(fā)現(xiàn)一卷電線測量的最小厚度小于規(guī)定值多過2Mils，判定該卷電線不合格。若測量值小于規(guī)定值不超過2Mils,應在該卷電線上相距1英尺處抽取兩個樣測量，如果其中1個結果小于最小值，該卷電線判為不合格，若兩個測量值均達標，判為合格。

外被

平均外被厚度

沿線身測量相距離英寸的5個點處外被的外徑以及成纜直徑，外被厚度=（外被外徑-成纜直徑）/2

平均外被厚度為5個點測量值的平均。

外被最小厚度：同導線最小絕緣厚度。外被內(nèi)表面須先小心拋磨打平，再使用荷重85g,測量截面直徑6.4mm的荷重千分尺測量。

讀數(shù)顯微鏡測量：方法同導體絕緣厚度測量方法。

常見電線的平均厚度和最小厚度的對照表。見UL62，Table:16.2,16.4,16.6,16.8.

絞距

芯線絞距

取芯線10個絞合的間距的平均值作為芯線平均絞距，測量時去除大約十個絞合長度的絕緣外皮，取任何一支芯線為對象進行測量。注意在去皮時不要損傷芯線，造成芯線斷線。

導線絞距

同樣取導線的10個絞距長度進行平均，作為平均導線絞距，取樣時要注意由于導線絞合時的內(nèi)應力一扭力很大，去除外被時可能造成原絞合結構的松散。為此，取樣時先預留一段護套線不去除外被，再沿線纜方向用利刀片拉掉部分外被，最好是以能看到待測導線，而導線與外被結合得仍很緊密為宜。將樣品平放拉直，量取某一導線十個絞合點之間的距離作為絞距，因為成纜時由于應力的關系，成形外被后原絞合距離會增加。

各種芯線最大絞距參見UL62。各種線徑的導線最大絞距參見UL62